意大利Miam　Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)

型號：Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)

品牌：意大利Miam

會員價格：面議

聯(lián)系方式： 010-68940148

在線解答：

立即咨詢

意大利Miam

1994年，Mi.am（用于環(huán)境的微電子學）成立，旨在為專業(yè)人士提供*佳儀器。安東尼奧·帕拉維奇尼（Antonio Parravicini）于1989年以ra的論文畢業(yè)于物理學，他意識到這個話題的重要性，當時幾乎還不為人所知，因此創(chuàng)立了公司。 Mi.am開始代表最重要的公司，并...[查看更多]

瀏覽過此產(chǎn)品的用戶最終購買了

意大利MIam Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)由愛儀器儀表網(wǎng)代理，本產(chǎn)品是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器?，F(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過ai1718.com的客服熱線聯(lián)系我們！

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)簡介：
?Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。
?Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器。主要應用于各類研究，氡和中子的劑量測定。
?Politrack提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
?掃描面積可達 205x205 mm2，用戶可定義探測器尺寸和讀取面積。
通過 OCR 讀取探測器ID。
?在掃描開始時執(zhí)行的自動對焦例程可確保在整個讀取過程中使圖像聚焦探測器表面。
?形態(tài)分析會將對來自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進行分類，并去除本底噪聲。
?形態(tài)參數(shù)中具有濾鏡功能，用戶可以看到應用濾鏡后會發(fā)生或出現(xiàn)什么狀態(tài)，并且以此進行修改參數(shù)范圍或強度。軟件可對與徑跡密度成正比的徑跡重疊進行校正。
?輸出數(shù)據(jù)文件包含所有探測器相關(guān)數(shù)據(jù)，用戶可以自定義輸出模板和格式（與Excel完全兼容）。

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)特點：
?任何尺寸的CR-39和LR115檢測器均可讀數(shù)
?精密的徑跡蝕刻形態(tài)分析
?CR-39檢測器老化校正
?LR115殘余厚度校正
?重疊校正
?清晰明確的算法，不存在黑匣子
?操作員可設(shè)置和修改所有參數(shù)

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)應用領(lǐng)域：
?各類研究工作
?劑量測定服務(wù)
?氡測量
?快中子
?熱中子
?LET光譜

Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)操作方法：
用戶可以定義探測器的類型和尺寸，讀取區(qū)域以及所有掃描參數(shù)。形態(tài)分析可以區(qū)分來自不同粒子和具有不同能量的徑跡，去除本底干擾。

所有算法清晰明確，用戶可以通過功能強大的圖形工具輕松修改和/或應用形態(tài)分析濾鏡，并實時可視化結(jié)果。若需更改參數(shù)，可直接使用二次計算工具，而無需重新讀取探測器。輸出文件包含所有探測器相關(guān)掃描數(shù)據(jù)，用戶可自定義輸出模板和格式。

蜂窩抗振面包板	550x750x40毫米
三軸微步電機控制板
顯微鏡：	4x +針孔（rad）; 20x +冷凝器（中子）
掃描架	200x200 mm
Z軸精密線性平臺	重復精度+/- 0.5微米
相機	1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n，30幀/秒
XY電動掃描臺	205x205mm，90mm / sec，分辨率<1微米
LED系統(tǒng)	用于樣品背光
軟件包：	CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光譜儀