無(wú)損檢測(cè)是指在不損壞待檢部件的前提下,檢測(cè)試樣中是否存在缺陷或不均勻性,同時(shí)給出缺陷的大小、性質(zhì)、位置和數(shù)量等信息,進(jìn)而判定被檢對(duì)象的技術(shù)狀態(tài)(質(zhì)量、壽命)的所有技術(shù)手段的總稱(chēng),是控制產(chǎn)品質(zhì)量及工業(yè)發(fā)展領(lǐng)域的必不可少的有效工具。一定程度上也反映出一個(gè)*的工業(yè)水平。
無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域其檢測(cè)方法種類(lèi)繁多,在實(shí)際應(yīng)用中比較常見(jiàn)的有如下幾種,即常規(guī)的無(wú)損檢測(cè)方法:目視檢測(cè)(VT)、射線(xiàn)檢測(cè)(RT)、超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)和液體滲透檢測(cè)(PT)及其他檢測(cè)方法:渦流檢測(cè)(ET)、熱像/紅外(TIR)、泄露試驗(yàn)(LT)、漏磁檢驗(yàn)(MFL)等。在實(shí)際應(yīng)用中,限于檢測(cè)方法本身的特性可能會(huì)導(dǎo)致缺陷不能檢出,因此在檢測(cè)之前應(yīng)該根據(jù)試樣的材質(zhì)大小,加工方法,和使用過(guò)程等來(lái)查詢(xún)相關(guān)資料預(yù)估可能出現(xiàn)的缺陷及缺陷種類(lèi)分布,在根據(jù)分析在選擇*適合的檢測(cè)方法,在條件允許的情況下也可以多種方法進(jìn)行復(fù)檢。
以下是對(duì)不同檢測(cè)方法優(yōu)缺點(diǎn)的對(duì)比:
檢測(cè)方法 |
樣品要求 |
可探出的缺陷 |
判斷方法 |
檢測(cè)結(jié)論 |
主要優(yōu)缺點(diǎn) |
目視檢測(cè) |
不限 |
用于焊縫評(píng)定的初期檢驗(yàn),先做目視在用設(shè)備測(cè)試 |
目視及測(cè)量尺 |
工藝評(píng)定 |
初步檢驗(yàn),如外觀缺陷,焊縫不合等需要專(zhuān)門(mén)的技術(shù)培訓(xùn) |
超聲波探測(cè) |
材料不限,表面需光滑,可在設(shè)備運(yùn)行的情況下探測(cè) |
任何部位的缺陷 |
儀器波峰指示,可判定缺陷大小及位置,不能直接分析缺陷種類(lèi) |
缺陷位置,深度大小,分布情況 |
對(duì)人體無(wú)害,靈敏度高,可直接出結(jié)果用途廣泛,缺點(diǎn)對(duì)待測(cè)部件表面要求較高,不能判斷缺陷的性質(zhì) |
射線(xiàn)檢測(cè) |
不限,但厚度不能太大 |
內(nèi)部缺陷 |
顯像分析缺陷分布情況,大小及種類(lèi) |
缺陷位置,形狀,大小及分布情況 |
定性定量簡(jiǎn)單,可*保存缺陷記錄,不受形狀限制,缺點(diǎn)是費(fèi)用較高對(duì)人體有傷害,需要特殊防護(hù) |
磁粉檢測(cè) |
僅適用于鐵磁性材料,試樣大小及表面有要求 |
表面及近表面微小缺陷 |
觀察磁粉分布情況來(lái)確定裂紋形狀,并不能確定深度 |
缺陷位置,形狀,長(zhǎng)度 |
測(cè)量速度快,缺點(diǎn)顯示直觀方便進(jìn)行批量化檢測(cè),缺點(diǎn)是不能檢測(cè)非鐵磁性材料及埋藏較深的小孔 |
滲透檢測(cè) |
除表面多孔性疏松,要求表面光潔 |
表面開(kāi)口缺陷 |
直接觀察缺陷分布,無(wú)法確定深度 |
表面缺陷位置、形狀、大小 |
顯示直觀,操作方便,檢測(cè)費(fèi)用低,具備高靈敏度可發(fā)現(xiàn)0.1um寬缺陷,缺點(diǎn)是只能檢出表面缺陷分布不能判斷深度,測(cè)量速度較為緩慢 |
熒光檢測(cè) |
除表面多孔材料,要求表面光潔 |
延伸至表面的微細(xì)缺陷 |
在紫外線(xiàn)的照射下由顯示粉分布情況來(lái)判斷缺陷分布 |
表面缺陷位置、形狀、大小 |
設(shè)備簡(jiǎn)單,操作方便,適用于無(wú)電源地區(qū),工作檢驗(yàn)需在暗室進(jìn)行觀察,缺點(diǎn)是不適用于大型工件,并且紫外線(xiàn)所產(chǎn)生的臭氧會(huì)損害人的眼睛 |
渦流檢測(cè) |
導(dǎo)電材料,構(gòu)造簡(jiǎn)單表面光滑 |
表面及近表面微小缺陷 |
根據(jù)訊號(hào)指示,判斷缺陷的大致大小,不能判斷性質(zhì)和深度 |
表面缺陷判斷及大小 |
設(shè)備輕巧,攜帶方便,可用于批量的零件檢測(cè),也可測(cè)量涂層厚度缺點(diǎn)是不適用于復(fù)雜零件,僅適用于導(dǎo)電材料和近表面缺陷,檢測(cè)結(jié)果容易受到因素干擾(形狀、尺寸、電導(dǎo)率) |
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